一种高聚物平台模量的测量方法
申请号： 201310522249.4 专利类型：发明 公开(授权)日：2017-04-05
本发明公开了一种高聚物平台模量的测量方法，通过测量高聚物熔体条件下的降温扫描曲线，得到相位角和复数模量随温度的变化关系，进而得到相位角对复数模量的曲线，曲线的最低点即为材料的平台模量。本发明通过使用本发明所提供的技术，可用较少的工作量得到材料的平台模量，以解决现有技术较为繁琐的问题，对研究材料的相对分子量和分子结构具有重要意义。
本发明公开了一种高聚物平台模量的测量方法，通过测量高聚物熔体条件下的降温扫描曲线，得到相位角和复数模量随温度的变化关系，进而得到相位角对复数模量的曲线，曲线的最低点即为材料的平台模量。本发明通过使用本发明所提供的技术，可用较少的工作量得到材料的平台模量，以解决现有技术较为繁琐的问题，对研究材料的相对分子量和分子结构具有重要意义。
